光電冷熱沖擊試驗(yàn)箱

光電冷熱沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：

GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

產(chǎn)品適用范圍：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)：

國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86；
國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86；
國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86；
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制